Descripción del equipo
 
Analizadores XRF puntuales (Microspot) de grosor de recubrimientos y de materiales para pruebas rápidas de control de la calidad y validación, lo que facilita obtener los resultados correctos en segundos.
El análisis de grosor de recubrimientos y de materiales basado en la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria, que ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo que requiere poca o ninguna preparación de muestras, capaz de analizar sólidos o líquidos en una amplia gama de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica.
 
El X-Strata 920 está diseñado para medir revestimientos de una o varias capas, incluyendo capas aleadas, para las industrias de productos electrónicos y del acabado de metales. Nuestros expertos en aplicaciones interna han optimizado el X-Strata 920 para garantizarle resultados confiables y repetibles para cientos de aplicaciones, incluyendo los acabados de superficies de PCB, revestimientos de conectores, resistencia a la corrosión, acabados decorativos, resistencia al desgaste, resistencia a altas temperaturas y mucho más.